晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
CHDF3000型高精度纳米粒度仪
产地:美国产品简介:1)CHDF3000是基于光散原理的仪器,使用新的技术对高分辨率的粒度分布(PSD)进行测量,包括高粒子检测灵敏度、动态范围、纳米粒子的优化分析;
洛氏硬度机
HR-150A洛氏硬度机,是一种机械式手动测试,无电器装置的普及型硬度计,具有良好的经济性和实用性,使用范围广,操作简便等特点。 本机全手动操作,不需外接电源。方便耐用。深圳地区销量前列。
